高低温冲击试验标准要求

　　高低温冲击试验是将样品暴露在高低温极值下，通过技术手段代替漫长的暴露试验，快速检测样品对于高低温极值交替冲击能力。能用于暴露样品存在的安全性问题或潜在缺陷，适当工程处理后也可用于筛选使用，用于揭露样品暴露在极端温度变化下出现的缺陷。

　　试验度设备要求：

　　1、高温箱、低温箱应满足-65~200℃的极值温差条件。

　　2、工作舱应满足任一测量点的温度保持在±2℃内；试验箱的构造应使工作空间任一点的温度，在任何时间偏离测量点不能超过±3℃。但紧靠发热样品周围除外。

　　3、试验箱应有足够的热容量，以便样品放入工作室后，能在5min中内恢复到规定温度值。

　　4、样品的安装和支撑架的热导率应低，要保证样品于安装、支撑架之间处于绝热状态。
 

　　试验程序：（不同行业标准不同，文章内主要参考电子及电子元器件标准）

　　在标准GJB360B-2009电子及电子元器件试验方法中高低温冲击试验分为空气介质法和液体介质法。空气介质法的试验步骤我们在之前的电子及电子元器件高低温冲击实验中和大家讲过了，所以小编今天主要介绍的还是液体介质的高低温冲击试验。

　　1、按照标准对样品外观、电性能、机械性能进行检测并记录，以便后续比对工作。

　　2、将样品浸入低温槽中并保持相应时间，（按规定，样品加夹具重量小于等于1.4kg的，最短浸入0.5min；重量大于1.4kg，小于等于14kg的最短浸入2min；重量大于14kg，小于等于140kg的浸入5min。）然后将样品移至高温槽并保持相应时间。因此为一个循环，若无特殊固定应持续10个循环。样品在两个液槽之间的转换时间要小于10s。